Ieee Sensors Journal是一份國際專業(yè)期刊,致力于匯集全球范圍內(nèi)最優(yōu)秀的綜合性期刊-INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION研究者,為他們提供一個展示最新研究成果、交流學(xué)術(shù)思想的平臺。該期刊中文名稱:IEEE傳感器雜志,國際簡稱:IEEE SENS J,在中科院分區(qū)表2023年12月升級版中大類學(xué)科位于2區(qū)。本刊是一本OA未開放訪問期刊,該刊預(yù)計審稿周期: 約6.3個月 。
Ieee Sensors Journal雜志是一本未開放獲取期刊,由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版,semi-monthly發(fā)行一次。該雜志是綜合性期刊領(lǐng)域方面發(fā)表綜合文章的國際論壇。此外,該期刊還有助于促進(jìn)這些研究領(lǐng)域的科學(xué)家之間的交流,從而開發(fā)新的研究機(jī)會,通過新發(fā)現(xiàn)推動該領(lǐng)域的發(fā)展,并接觸到各個層次的科學(xué)家。該刊入選的論文應(yīng)具有廣泛意義的數(shù)據(jù)、綜合研究或概念。
Ieee Sensors Journal已被國際權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE收錄。該刊歡迎來自所有綜合性期刊及其相關(guān)領(lǐng)域的投稿,編輯們致力于迅速評估和發(fā)表提交的論文,同時堅持高標(biāo)準(zhǔn),該期刊發(fā)表多種類型的內(nèi)容,包括原創(chuàng)研究論文、綜述、信件、通訊和評論,這些內(nèi)容詳細(xì)闡述了該領(lǐng)域的重大進(jìn)展并涵蓋熱門話題。近年在Ieee Sensors Journal期刊上發(fā)表文章的機(jī)構(gòu)主要的有:INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (IIT SYSTEM)、BEIHANG UNIVERSITY、CHINESE ACADEMY OF SCIENCES、NATIONAL INSTITUTE OF TECHNOLOGY (NIT SYSTEM)、TIANJIN UNIVERSITY;在該期刊上發(fā)表文章的主要國家和地區(qū)有:CHINA MAINLAND、USA、India、England、South Korea。
大類學(xué)科 | 小類學(xué)科 | Top期刊 | 綜述期刊 |
綜合性期刊 2區(qū) |
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表
PHYSICS, APPLIED
物理:應(yīng)用
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣
2區(qū)
2區(qū)
3區(qū)
|
否 | 否 |
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綜合性期刊 2區(qū) |
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表
PHYSICS, APPLIED
物理:應(yīng)用
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣
2區(qū)
2區(qū)
3區(qū)
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是 | 否 |
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工程技術(shù) 2區(qū) |
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表
PHYSICS, APPLIED
物理:應(yīng)用
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣
2區(qū)
2區(qū)
3區(qū)
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否 | 否 |
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工程技術(shù) 3區(qū) |
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
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PHYSICS, APPLIED
物理:應(yīng)用
3區(qū)
3區(qū)
3區(qū)
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否 | 否 |
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工程技術(shù) 2區(qū) |
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
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物理:應(yīng)用
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣
2區(qū)
2區(qū)
3區(qū)
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否 | 否 |
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工程技術(shù) 2區(qū) |
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
儀器儀表
PHYSICS, APPLIED
物理:應(yīng)用
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
工程:電子與電氣
2區(qū)
2區(qū)
3區(qū)
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否 | 否 |
中科院分區(qū)表被廣泛應(yīng)用于國際科研評價體系中。許多國際學(xué)術(shù)機(jī)構(gòu)、研究基金以及大學(xué)都采用這種分區(qū)方式來評估研究者的學(xué)術(shù)貢獻(xiàn)和水平,這使得中科院SCI期刊分區(qū)在國際上得到了廣泛的認(rèn)可和應(yīng)用。中科院SCI期刊分區(qū)的計算方式主要基于期刊的三年平均影響因子, 這一計算方式更準(zhǔn)確地反映期刊在一段時間內(nèi)的學(xué)術(shù)影響力和水平。
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 83 / 352 |
76.6% |
學(xué)科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 15 / 76 |
80.9% |
學(xué)科:PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 48 / 179 |
73.5% |
按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 99 / 354 |
72.18% |
學(xué)科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 15 / 76 |
80.92% |
學(xué)科:PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q1 | 39 / 179 |
78.49% |
學(xué)科類別 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
大類:Physics and Astronomy 小類:Instrumentation | Q1 | 20 / 141 |
86% |
大類:Physics and Astronomy 小類:Electrical and Electronic Engineering | Q1 | 148 / 797 |
81% |
CiteScore分區(qū)標(biāo)準(zhǔn)主要是基于學(xué)科領(lǐng)域期刊的引用次數(shù)排名進(jìn)行劃分的。具體來說,這個標(biāo)準(zhǔn)將期刊分為四個區(qū)域:Q1、Q2、Q3和Q4。Q1區(qū)包含的是引用次數(shù)排名最前的前25%的期刊,這些期刊在學(xué)科領(lǐng)域內(nèi)具有最高的影響力。接下來的Q2區(qū)包含引用次數(shù)排名次高的25%的期刊,以此類推,Q3和Q4區(qū)分別包含引用次數(shù)排名中等的和后25%的期刊。
影響因子和CiteScore都是重要的學(xué)術(shù)評價指標(biāo),能夠幫助研究者和學(xué)者了解期刊的學(xué)術(shù)影響力。影響因子(Impact Factor)和CiteScore在計算方式和覆蓋范圍上有所不同。影響因子主要關(guān)注期刊過去兩年內(nèi)發(fā)表的論文被引用的次數(shù),而CiteScore則考慮了過去三年的數(shù)據(jù)。此外,影響因子是基于Web of Science數(shù)據(jù)庫計算的,而CiteScore則是基于Scopus數(shù)據(jù)庫。這使得兩種指標(biāo)在評估學(xué)術(shù)期刊時具有不同的側(cè)重點(diǎn)和覆蓋范圍。
期刊被他刊引用次數(shù)反映了期刊上發(fā)表的論文被其他研究者和學(xué)者引用的頻率。被引指數(shù)越高,說明該期刊的論文在學(xué)術(shù)界受到的關(guān)注越廣泛,影響力也越大。
期刊引用他刊次數(shù)指標(biāo)通常指的是該期刊所發(fā)表的論文中引用其他期刊文獻(xiàn)的次數(shù)。這個指標(biāo)可以反映期刊在學(xué)術(shù)交流和知識傳播中的活躍程度,以及期刊對外部研究成果的引用和整合能力。
若用戶需要出版服務(wù),請聯(lián)系出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。
中科院分區(qū):1區(qū)
期刊收錄:SCIE
中科院分區(qū):2區(qū)
期刊收錄:SCIE
中科院分區(qū):4區(qū)
期刊收錄:SCIE
中科院分區(qū):4區(qū)
期刊收錄:SCIE
中科院分區(qū):2區(qū)
期刊收錄:SCIE
中科院分區(qū):3區(qū)
期刊收錄:SCIE
中科院分區(qū):4區(qū)
期刊收錄:SCIE
中科院分區(qū):2區(qū)
期刊收錄:SCIE
中科院分區(qū):2區(qū)
期刊收錄:SCIE
中科院分區(qū):4區(qū)
期刊收錄:SCIE